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冷熱沖擊 試驗箱兩槽和三槽的區分

更新時間:2023-03-15  |  點擊率:684

冷熱沖擊試(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)也叫溫度沖擊試(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)、高(gao)低溫沖擊試(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)。它可分為“兩(liang)槽(cao)式(shi)冷熱(re)(re)沖(chong)擊試驗(yan)(yan)(yan)箱(xiang)"和(he)“三(san)槽(cao)式(shi)冷熱(re)(re)沖(chong)擊試驗(yan)(yan)(yan)箱(xiang)"也有人(ren)喜歡叫“兩(liang)箱(xiang)式(shi)冷熱(re)(re)沖(chong)擊試驗(yan)(yan)(yan)箱(xiang)"和(he)“三(san)箱(xiang)式(shi)冷熱(re)(re)沖(chong)擊試驗(yan)(yan)(yan)箱(xiang)"等(deng)等(deng),那(nei)么冷熱(re)(re)沖(chong)擊試驗(yan)(yan)(yan)箱(xiang)兩(liang)槽(cao)與三(san)槽(cao)有什么區別(bie)嗎?針對這個問題,下(xia)面小編就為(wei)大家(jia)介紹下(xia)。

  一、結構:

  1、兩箱(xiang)(xiang)式溫度沖擊試(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)(xiang)整體(ti)結構:試(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)(xiang)由預熱(re)室、預冷(leng)(leng)室、制冷(leng)(leng)系統、加熱(re)系統、風道系統、電(dian)器控(kong)制系統組成。預冷(leng)(leng)室位于試(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)(xiang)后上部,預熱(re)室位于試(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)(xiang)前下(xia)部,制冷(leng)(leng)機給位于試(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)(xiang)的后下(xia)部,電(dian)器控(kong)制柜(ju)位于試(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)(xiang)右(you)側。

  2、三(san)箱式溫(wen)度沖(chong)擊試驗(yan)箱整體結構,試樣物品靜止。試驗箱由預熱室、預冷室、工作室、制冷系統、加熱系統、風道系統、電器控制系統組成。工作室位于試驗箱中部,高溫室位于試驗箱下部,低溫室位于試驗箱上部,制冷機系統位于試驗箱的后下部,電器控制柜位于試驗箱右側面上部。

兩槽式冷熱(re)沖擊試驗箱(xiang)的(de)產品作(zuo)用:

 

用于(yu)測試材料結構或復合材料,在瞬間下(xia)經過及極低溫的連續環(huan)境下(xia)所能忍受(shou)的程度,藉以在zui短時間內(nei)試(shi)驗其(qi)因熱脹冷縮(suo)所引起(qi)的(de)化學(xue)變化或(huo)物理(li)傷害(hai),適用的(de)對象包括金屬,塑料,橡膠,電(dian)子等(deng)材料,可作為(wei)其(qi)產品改進的(de)依據或(huo)參考。

 

兩槽(cao)式冷熱沖擊(ji)試(shi)驗箱,顧名思義其只有兩槽(cao),分別為高(gao)溫槽(cao)和低溫槽(cao),沖擊(ji)工作(zuo)時,只需通過吊籃將測(ce)試(shi)件(jian)移(yi)動至相(xiang)(xiang)應的(de)工作(zuo)室即(ji)可,能量(liang)損耗(hao)相(xiang)(xiang)對較少,與三(san)槽(cao)式相(xiang)(xiang)比(bi),配置均小(xiao),成本(ben)較低,故(gu)障(zhang)率(lv)相(xiang)(xiang)對偏低。

 

可試驗低(di)溫-高溫(wen)的沖擊,沒有經過常溫(wen)。

 

三槽式(shi)冷熱沖擊試(shi)驗箱的產品作用:

 

用于電(dian)子電(dian)器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配(pei)件、金屬、塑膠等行業,國(guo)防工業、航天、電(dian)子芯(xin)片IC、 半導(dao)體陶瓷及高(gao)分子材料(liao)之(zhi)物理性變化(hua),測(ce)試其材(cai)料(liao)對(dui)高、低溫的(de)(de)反(fan)復抵拉力及產品(pin)(pin)于熱脹冷縮產出(chu)的(de)(de)化學(xue)變化或物理傷害,可確(que)認產品(pin)(pin)的(de)(de)品(pin)(pin)質(zhi),從精密(mi)的IC到重機械(xie)的組件,無一不需要它的理想測試工具。

 

三槽式冷(leng)熱沖(chong)擊試驗箱主要(yao)用于測試物(wu)不可移(yi)動,或帶載測試(通電或外(wai)加測量傳感器等),測試(shi)物件置放(fang)于工(gong)作(zuo)槽,通過(guo)改(gai)變風道方(fang)式,將預冷槽或預熱(re)槽的(de)溫度帶入工(gong)作(zuo)槽,實現溫度的(de)快速沖擊(ji)變化;由于比(bi)兩(liang)槽式(shi)冷(leng)熱(re)沖擊(ji)試驗(yan)箱多(duo)增(zeng)加(jia)了一(yi)個工作槽,在(zai)升(sheng)降溫時,需對預冷(leng)熱(re)量(liang)的要求要高,功率和蓄能(neng)裝置配置要大(da),成本相應增(zeng)加(jia)。

 

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