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冷熱沖擊試驗箱常見故障

更新時間:2023-05-05  |  點擊率:580

1、請檢查控制面板的(de)超(chao)溫保護器是否設定在150℃的(de)位(wei)置,

2、請檢查機(ji)房的循環馬達是否(fou)損壞沒有運(yun)轉,

3、請檢查是(shi)否溫度部分(fen)的(de)固態繼電(dian)(dian)器(qi)燒毀(hui)短路。若加熱器(qi)未燒毀(hui),制(zhi)作高低溫試驗箱請使用三用電(dian)(dian)表交流(liu)電(dian)(dian)壓(ya)檔,電(dian)(dian)壓(ya)檔位(wei)開到600伏特(te)的(de)位(wei)置(zhi),將紅黑棒分(fen)別放在(zai)線號(hao)標注為T的(de)那一顆固態繼電(dian)(dian)器(qi)交流(liu)兩側,將濕度部分(fen)的(de)溫度設(she)定值設(she)置(zhi)0℃,此(ci)時溫度部分(fen)的(de)固態繼電(dian)(dian)器(qi)的(de)指(zhi)示燈不(bu)會亮(liang)起,若量(liang)測的(de)電(dian)(dian)壓(ya)值沒有(you)變化,維持在(zai)10V以(yi)下(xia)代表固態繼電(dian)(dian)器(qi)燒毀(hui)呈現短路狀(zhuang)態。

1、高(gao)低溫(wen)(wen)試驗箱的溫(wen)(wen)控儀表采用(yong)進口儀表,帶PID調(diao)節(jie)、SSR輸出,快速(su)自整定,數字式顯示(shi),讀(du)數方便。2、箱門與工作室、外殼設(she)有耐(nai)高溫密(mi)封(feng)條及壓緊裝(zhuang)置(zhi),有效的(de)保(bao)(bao)證箱體(ti)的(de)密(mi)封(feng)性和保(bao)(bao)溫性能。3、制冷系統選用法國“泰康"原裝(zhuang)全封閉壓縮機,確保高低溫試(shi)驗箱的低溫穩(wen)定性。高低(di)溫(wen)試(shi)驗箱(xiang)的日常維(wei)護和對主(zhu)要(yao)技術指標的簡(jian)易測試(shi),能夠保證高低(di)溫(wen)試(shi)驗箱(xiang)的工作處于最佳(jia)狀態。4、有超溫(wen)保(bao)(bao)護及控制回路過載保(bao)(bao)護、短路保(bao)(bao)護,使用安全可靠。5、工作室(shi)及試品(pin)架為不(bu)銹(xiu)鋼(gang)材料,外箱體為優質冷軋(ya)板(ban)噴塑而成(cheng),外形美(mei)觀。以下,是幾點(dian)有(you)關高低溫試(shi)驗箱維護保養需要注意的事項:1、高(gao)(gao)(gao)低(di)(di)溫(wen)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱的(de)(de)溫(wen)度和濕度是影響(xiang)儀器性(xing)能(neng)的(de)(de)重要因素,制作(zuo)高(gao)(gao)(gao)低(di)(di)溫(wen)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱其可以(yi)引(yin)起(qi)(qi)機械部(bu)件的(de)(de)銹蝕,使(shi)金屬(shu)鏡(jing)面的(de)(de)光(guang)(guang)潔度下降,引(yin)起(qi)(qi)高(gao)(gao)(gao)低(di)(di)溫(wen)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱機械部(bu)分的(de)(de)誤(wu)差(cha)或性(xing)能(neng)下降;造成高(gao)(gao)(gao)低(di)(di)溫(wen)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱光(guang)(guang)學(xue)部(bu)件如光(guang)(guang)柵、反射鏡(jing)、聚(ju)焦鏡(jing)等(deng)的(de)(de)鋁膜銹蝕,產生(sheng)光(guang)(guang)能(neng)不足(zu)、雜(za)散光(guang)(guang)、噪聲等(deng),甚至儀器停止工作(zuo),從(cong)而影響(xiang)高(gao)(gao)(gao)低(di)(di)溫(wen)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱的(de)(de)壽命,維護(hu)保養時應定(ding)期加以(yi)校正。2、高低(di)溫試驗箱(xiang)工作環境中的塵埃和腐(fu)蝕性氣體亦可以(yi)影(ying)響機械(xie)系統的靈活(huo)性、降低(di)各種限位(wei)開關、按鍵(jian)、光電偶合器的可靠性,也是造(zao)成必須學部件鋁(lv)膜(mo)銹蝕的原因(yin)之(zhi)一。3、高低溫(wen)試(shi)驗箱使用一定(ding)周(zhou)期后,內部(bu)(bu)會積累一定(ding)量的(de)(de)(de)塵(chen)埃,最好由(you)維修工程師或在工程師指導下定(ding)期開啟高低溫(wen)試(shi)驗箱外罩對(dui)(dui)內部(bu)(bu)進(jin)行除塵(chen)工作(zuo),同(tong)時將各(ge)發熱元件的(de)(de)(de)散熱器重新(xin)緊固(gu),對(dui)(dui)光(guang)學(xue)盒的(de)(de)(de)密封窗口進(jin)行清潔,必(bi)要時對(dui)(dui)其進(jin)行校(xiao)準(zhun),對(dui)(dui)機(ji)械部(bu)(bu)分進(jin)行清潔和必(bi)要的(de)(de)(de)潤滑,最后恢(hui)復原狀,再(zai)進(jin)行一些必(bi)要的(de)(de)(de)檢(jian)測、調(diao)校(xiao)與記錄(lu)。高(gao)低溫(wen)(wen)試驗(yan)(yan)(yan)箱是模擬自然高(gao)低溫(wen)(wen)變化環境(jing),廣泛應(ying)用(yong)于對(dui)電子,制作高(gao)低溫(wen)(wen)試驗(yan)(yan)(yan)箱電工產(chan)品(pin)及其他(ta)產(chan)品(pin)零部(bu)件(jian)材料在使(shi)用(yong)儲運過程中對(dui)溫(wen)(wen)度(du)環境(jing)的適應(ying)性(xing)的試驗(yan)(yan)(yan)。特別是電氣(qi)性(xing)能個機(ji)械性(xing)能的變化.A:低溫(wen)(wen)試驗(yan)(yan)(yan)方法、試驗(yan)(yan)(yan)B:高(gao)溫(wen)(wen)試驗(yan)(yan)(yan)方法》對(dui)產(chan)品(pin)進行(xing)低溫(wen)(wen)及高(gao)溫(wen)(wen)試驗(yan)(yan)(yan)。高(gao)低溫試驗箱采用先進的(de)控(kong)溫(wen)(wen)方式(shi)——平衡式(shi)溫(wen)(wen)度調(diao)節方式(shi),因而可自動(dong)獲得由高(gao)溫(wen)(wen)到低溫(wen)(wen),或(huo)由低溫(wen)(wen)到高(gao)溫(wen)(wen)時(shi)的(de)可靠、精確的(de)試驗溫(wen)(wen)度。步入式高低(di)溫試驗箱儀表的十個檢修方法步入式高(gao)低溫試驗箱(xiang)檢修方法(fa)一:對比法(fa)具體方(fang)法(fa)是:讓有故障(zhang)的儀(yi)(yi)表(biao)和正常儀(yi)(yi)表(biao)在(zai)相同情況下運(yun)行,CLM高低溫交變濕熱試驗箱而后(hou)檢(jian)測(ce)一(yi)些(xie)點的信號(hao)再比較所測(ce)的兩(liang)組(zu)信號(hao),若有不(bu)同,則可以斷定故障(zhang)出(chu)在(zai)這里。這種方(fang)法(fa)要(yao)求(qiu)維修人員(yuan)具有相當的知識和技能。要(yao)求有兩臺(tai)同型號的儀表(biao),并有一臺(tai)是正常運(yun)行(xing)的。制(zhi)作高低溫試驗(yan)箱(xiang)使用(yong)這種(zhong)方法還要(yao)具備(bei)必(bi)要(yao)的設備(bei),例如(ru),萬(wan)用(yong)表(biao)、示波器等。按比較的性質分有,電壓比較、波形比較、靜(jing)態阻抗比較、輸出(chu)結果比較、電流比較等。方(fang)法(fa)二:電(dian)容旁路法(fa)當(dang)某一(yi)電路(lu)產生比(bi)較奇怪的現象,例如顯示器混亂時,可以用電容旁路(lu)法確定大概(gai)出故障的電路(lu)部分。方法(fa)三:隔(ge)離(li)法(fa)故障隔離法不需要相(xiang)同型號(hao)(hao)的設(she)備或(huo)備件(jian)作比較(jiao),而且安全可靠。根(gen)據故障檢測流程(cheng)圖,分割包圍逐(zhu)步(bu)縮小(xiao)故障搜索范圍,再配合信號(hao)(hao)對比、部件(jian)交換等方法,一般(ban)會很快查到故障之所在。方法四(si):敲擊法經常會遇到儀器運(yun)行時好(hao)時壞的(de)(de)現(xian)象,制(zhi)作高(gao)低溫試驗箱(xiang)這(zhe)種(zhong)現(xian)象絕大多數(shu)是由于接觸不(bu)良(liang)或虛焊造(zao)成(cheng)的(de)(de)。對(dui)于這(zhe)種(zhong)情況可以(yi)采(cai)用敲擊與手(shou)壓(ya)法。所謂的(de)“敲(qiao)(qiao)擊(ji)"就是(shi)對可能產生故(gu)障(zhang)的(de)部位,通過小橡皮(pi)鎯頭(tou)或(huo)其(qi)他敲(qiao)(qiao)擊(ji)物(wu)輕輕敲(qiao)(qiao)打(da)插(cha)(cha)件板或(huo)部件,看看是(shi)否(fou)會引起(qi)出(chu)錯或(huo)停機(ji)故(gu)障(zhang)。所謂“手(shou)壓"就是(shi)在(zai)故(gu)障(zhang)出(chu)現時,關上電源后對插(cha)(cha)的(de)部件和(he)插(cha)(cha)頭(tou)和(he)座(zuo)重(zhong)新(xin)用(yong)手(shou)壓牢,再(zai)開機(ji)試(shi)試(shi)是(shi)否(fou)會消除故(gu)障(zhang)。如(ru)果發現敲(qiao)(qiao)打(da)一下機(ji)殼正(zheng)常,再(zai)敲(qiao)(qiao)打(da)又(you)不正(zheng)常時,最好先將所有接頭(tou)重(zhong)插(cha)(cha)牢再(zai)試(shi),若不成(cheng)功,只好另想辦法了。方(fang)法五:狀態調(diao)整法一般來說,在故(gu)(gu)障未(wei)確(que)定前,不要(yao)隨便觸動(dong)電路中的(de)元器件(jian)(jian)特別是可調整式器件(jian)(jian)更是如此,例電位(wei)器等。但是如果無紙記錄儀事先采取復(fu)參考措施(例如,在未(wei)觸動(dong)前先做好位(wei)置記號或測(ce)出(chu)電壓(ya)值或電阻(zu)值等),必(bi)要(yao)時還是允許(xu)觸動(dong)的(de)。也許(xu)改變之(zhi)后有(you)時故(gu)(gu)障會(hui)消除(chu)。IC的(de)電(dian)(dian)源和地端(duan)(duan);對晶體管電(dian)(dian)路(lu)(lu)跨(kua)接在(zai)基極輸入端(duan)(duan)或(huo)集電(dian)(dian)極輸出端(duan)(duan),觀察對故(gu)障現(xian)象(xiang)的(de)影響。如果彩色無紙記錄儀電(dian)(dian)容旁(pang)路(lu)(lu)輸入端(duan)(duan)無效(xiao)而旁(pang)路(lu)(lu)它的(de)輸出端(duan)(duan)時故(gu)障現(xian)象(xiang)消(xiao)失,則(ze)確定故(gu)障就出現(xian)在(zai)這一級電(dian)(dian)路(lu)(lu)中。方法(fa)六:觀(guan)察法(fa)利用視覺(jue)、嗅覺(jue)、觸覺(jue)。某些(xie)時候,損(sun)壞了的(de)元件會變色、起泡或出(chu)現燒(shao)焦的(de)斑點(dian);燒(shao)壞的(de)器件會產(chan)生一些(xie)特殊的(de)氣味;短路的(de)芯片會發燙;用肉眼也(ye)能觀(guan)察到虛(xu)焊(han)或脫焊(han)處。方法(fa)七(qi):騎肩法(fa)騎肩(jian)法也稱并(bing)聯(lian)法。把(ba)一塊好的IC芯片(pian)安在要檢查的芯片(pian)之上,或(huo)者(zhe)把(ba)好的元器(qi)(qi)件(jian)(電(dian)阻電(dian)容、二極管、三極管等)與要檢查的元器(qi)(qi)件(jian)并(bing)聯(lian),保(bao)持良好接(jie)觸(chu),如果故障(zhang)出自(zi)于器(qi)(qi)件(jian)內部開路或(huo)接(jie)觸(chu)不良等原因,則采用(yong)這種方法可(ke)以排(pai)除。步入(ru)式高低(di)溫試驗箱(xiang)儀表的檢(jian)修方法方(fang)法八(ba):替換法1)元(yuan)件替換法:要求(qiu)有兩(liang)臺同型(xing)號的(de)儀(yi)器(qi)或有足夠的(de)備件。制作(zuo)高低溫試驗箱將(jiang)一個好的(de)備品與故障機上的(de)同一元(yuan)器(qi)件進(jin)行替換,看故障是否消除(chu)。2) 功能(neng)(neng)替(ti)換法(fa):當故障機的(de)某(mou)一部位(wei)的(de)功能(neng)(neng)喪失后,由于一時無法(fa)找到原(yuan)備品備件(jian),可以根據該(gai)部位(wei)的(de)電路原(yuan)理,采購或自制(zhi)電氣參數功能(neng)(neng)相同或接(jie)近部件(jian)進行(xing)替(ti)換,同樣可以達到修復儀(yi)器的(de)目的(de)。方法九:升(sheng)降溫法有時,儀表(biao)工(gong)作(zuo)較長時間(jian),或(huo)在夏季工(gong)作(zuo)環境溫(wen)度(du)較高(gao)(gao)時就會(hui)出(chu)(chu)現故(gu)障(zhang),關機(ji)檢查正常,停一(yi)段時間(jian)再開(kai)機(ji)又正常,過(guo)一(yi)會(hui)兒又出(chu)(chu)現故(gu)障(zhang)。這(zhe)種現象(xiang)是(shi)由(you)于個(ge)別IC或(huo)元器件性能差(cha),高(gao)(gao)溫(wen)特性參數(shu)達不到指標(biao)要求所致。為了(le)找出(chu)(chu)故(gu)障(zhang)原因(yin)金屬加工(gong)網,可采(cai)用升(sheng)降溫(wen)法。所(suo)謂降(jiang)溫,就是在故障出現時,用棉纖(xian)將濕布在可能出故(gu)障(zhang)的部位(wei)抹擦,使其降溫,觀(guan)察故(gu)障(zhang)是否(fou)消除。制作高低溫試驗箱(xiang)所謂(wei)升(sheng)溫就是人為(wei)地將環境(jing)溫度升(sheng)高,比如(ru)用電烙鐵放近有疑(yi)點的部位(wei)(注意切不可將溫度升(sheng)得太高以致損壞正常(chang)器件)試看故(gu)障(zhang)是否(fou)出現。步入式高低溫試驗箱(xiang)儀表的檢修方法方法十:排除法所謂的排除(chu)法是通過(guo)拔插機(ji)內(nei)一(yi)些插件(jian)板、器(qi)件(jian)來(lai)判斷故障原因的方(fang)法。當拔除(chu)某一(yi)插件(jian)板或器(qi)件(jian)后儀表恢復正常,就說明(ming)故障發生在那里,此方(fang)法也是技術人員應(ying)該掌握并熟練(lian)運用的方(fang)法。