隨機振動試驗臺性能：

1、全數字式架構設計：MCU+DSP+FPGA協同處理架構;

2、采用(yong)多級(ji)閉(bi)環控制(zhi)策略，引入先進的數字控制(zhi)算法，具有(you)的功(gong)率輸出性(xing)能(neng);

3、模塊(kuai)化設計，根據輸出(chu)功率需求自由擴展;

4、基于先進的軟(ruan)啟動技(ji)術，開關頻率高達150KHz，具有優秀(xiu)的噪(zao)聲特性;

5、采(cai)用IGBT新型功率(lv)器件，具(ju)有高耐(nai)壓、高功率(lv)、高可靠性;

6、采用自動均流(liu)策略，并聯均流(liu)不平衡度<1%;

7、高轉(zhuan)換效(xiao)率，>95%;

8、完備的保(bao)護及互鎖功能(neng)：輸(shu)出(chu)過(guo)(guo)電壓;輸(shu)出(chu)過(guo)(guo)電流;放(fang)大(da)器過(guo)(guo)溫(wen);振動(dong)(dong)臺過(guo)(guo)位移(yi);水(shui)平滑臺過(guo)(guo)位移(yi);振動(dong)(dong)臺冷(leng)卻系統失敗，輸(shu)入電源欠壓;功率放(fang)大(da)器單元失敗，勵磁(ci)電源失敗;三廂供電失敗等(deng);各效率模塊具有獨立的過(guo)(guo)流、過(guo)(guo)溫(wen)、欠壓保(bao)護;

9、具(ju)有良(liang)好的風冷(leng)設計(ji);具(ju)有自適應中(zhong)心(xin)零位調整功能;

10、具(ju)有良好的人(ren)機(ji)界面和(he)操(cao)作(zuo)體驗。

試驗臺執行標準：

GB/T2423.10-1995 電工電子產品(pin)環(huan)境試(shi)驗 第二部分：試(shi)驗方法 試(shi)驗Fc和導(dao)則：振動(正弦)

GB/T2423.11-1997 電工電子(zi)產品(pin)環境試驗(yan) 第(di)2部分：試驗(yan)方法 試驗(yan)Fd：寬頻帶(dai)隨機振動-一般(ban)要求

GB/T2423.12-1997 電工(gong)電子產品環境(jing)試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fda 寬(kuan)頻帶(dai)隨機振(zhen)動(dong)-高再現性

GB/T2423.13-1997 電工電子(zi)產品(pin)環境試(shi)驗 第2部分：試(shi)驗方法 試(shi)驗Fdb 寬頻帶隨(sui)機(ji)振動(dong)-中(zhong)再現(xian)性

GB/T2423.14-1997 電工電子產(chan)品(pin)環境試驗 第2部分：試驗方(fang)法 試驗Fdc 寬頻帶隨機振動-低再現性

GB/T2423.35-1986 電(dian)工電(dian)子產品環(huan)境試(shi)驗規程 試(shi)驗Z/AFc：散(san)熱和非散(san)熱試(shi)驗樣品的低溫/振動(dong)(正弦)綜(zong)合試(shi)驗方法

隨機振動試驗臺規格/SPEC:(可根據用戶(hu)產品(pin)尺(chi)寸進(jin)行(xing)設計定制)