高低溫沖擊實驗箱

簡要描述：高低溫(wen)沖擊實驗(yan)箱是(shi)利用低溫(wen)及(ji)高溫(wen)蓄冷(leng)熱溫(wen)度(du)，依動作需要，將吊籃快速(su)移動到冷(leng),熱槽(cao)內,從而達到快速(su)溫(wen)度(du)沖擊效果,平衡(heng)調溫(wen)控制(zhi)系統（BTC）+ 特殊設計之(zhi)送風循環系統,以(yi)P.I.D.方式控制(zhi)SSR,使系統之(zhi)加熱量(liang)(liang)等(deng)于熱損耗量(liang)(liang),故能長(chang)期穩定的使用。

產(chan)品型(xing)號：
廠(chang)商(shang)性質：生產廠家
更新(xin)時間：2023-10-16
訪(fang) 問量(liang)： 717

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詳細介紹

高低溫沖擊實驗箱是一種用于測試產品在惡劣溫度條件下的耐受性和可靠性的設備。它可以模擬產品在高溫和低溫環境之間快速切換的情況，以評估產品在溫度變化時的性能、功能和物理特性。該實驗箱通常具有兩個獨立的測試室，一個用于高溫測試，另一個用于低溫測試，以確保產品在不同溫度下的工作和存儲條件下都能正常運行。通過進行高低溫沖擊測試，可以檢測產品的穩定性、材料的膨脹和收縮，以及連接部件的可靠性，從而幫助制造商改進產品設計和材料選擇。

高低溫沖擊實(shi)驗箱(xiang)簡(jian)介：

本(ben)試(shi)驗(yan)箱又稱“冷(leng)熱沖(chong)擊試(shi)驗(yan)箱”是金(jin)屬(shu)、塑料(liao)、橡膠、電(dian)子等材料(liao)行(xing)業的(de)(de)測試(shi)設(she)備，用于測試(shi)材料(liao)結構或復合材料(liao)，在瞬間(jian)下經高(gao)溫及低溫的(de)(de)連續環境下忍受的(de)(de)程度，得(de)以在短(duan)時(shi)間(jian)內(nei)檢測試(shi)樣因熱脹(zhang)冷(leng)縮所引起的(de)(de)化學變化或物理(li)傷害(hai)。

高(gao)低溫沖(chong)擊(ji)實驗箱執行與滿(man)足(zu)標準：

1、GB/T2423.1-2001低溫試驗(yan)方法;

2、GB/T2423.2-2001;

3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yan)N;

4、GJ標GJB150.3-86;

5、GJ標(biao)GJB150.4-86;

6、GJ標GJB150.5-86;

7、GJB150.5-86溫度(du)沖擊試(shi)驗;

8、GJB360.7-87溫度沖擊(ji)試驗;

9、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗;

10、SJ/T10187-91Y73系列溫度變(bian)化試驗箱——一箱式;

11、SJ/T10186-91Y73系(xi)列溫度變化(hua)試驗箱——二箱式(shi);

12、滿足標準IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化(hua)。

高低溫沖擊箱規

格/SPEC:（可(ke)根據用戶產品尺(chi)寸進行(xing)設計定制）

型號：	OK-TS-49	OK-TS-80	OK-TS-150	OK-TS-225
內部尺寸(W×H×D)cm	40×35×30	50×40×40	60×50×50	70×60×60
外部尺寸(W×H×D)cm	145×180×140	150×185×145	185×150×250	190×170×270
蓄熱區儲能溫度范圍	RT (常溫)～+200℃
蓄冷區儲能溫度范圍	RT (常溫)～ -70℃
測試區實驗溫度范圍	熱沖實驗（+60℃～+150℃ ）
	冷沖實驗（A:0℃～-45℃/ B:0℃～-55℃ / C:0℃～-65℃）
沖擊方式	試品靜止（氣動氣缸風門切換高/低溫箱）
蓄熱區預熱時間	RT～150℃ 約 30分
蓄冷區預冷時間	RT～-70℃ 約 85分
沖擊恢復時間	低于5min
溫度控制精度	±0.5℃
溫度均勻度	±2.0℃
冷凍系統	全密閉式或半密閉式壓縮機，環保冷媒(R404A/R23)
材質	內箱SUS#304鏡面不銹鋼板, 外箱SUS#304不銹鋼板或烤漆。
保溫材質	高強度防火PU發泡絕緣材料
配件	引線孔：￠50mm 1個/不銹鋼SUS #304板置物架（二層）
電源	電源線位于機器后面/AC380±5%V /50±0.5Hz /3相5線/長2.5米

高低溫(wen)沖擊試(shi)驗箱系統結(jie)構(gou)：

為(wei)待測(ce)品動態(tai)式冷﹑熱交替(ti)沖(chong)擊(ji)方(fang)式,該方(fang)法為(wei)現在高低溫沖(chong)擊(ji)方(fang)式,廣泛使(shi)用于電子(zi)零組件測(ce)試(shi),汽車(che)零部件,半導體,電子(zi)線路(lu)板(ban),金屬(shu)化學(xue),材料等測(ce)試(shi)設備。試(shi)驗箱(xiang)有三箱(xiang)結構，分為(wei)高溫區(qu)(qu)，低溫區(qu)(qu)，常溫區(qu)(qu)，常溫區(qu)(qu)即產品測(ce)試(shi)區(qu)(qu)，通過高溫區(qu)(qu)和低溫區(qu)(qu)的風(feng)門控(kong)制切換沖(chong)擊(ji)溫度。

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